Russell Shor, 9月 20, 2019
GIAのサービスと機器は、新しい宝石の処理やラボで製造された宝石が市場に参入するにつれて、ますます重要視され、影響を及ぼすようになりました。
詳細を読むStefanos Karampelas, Abeer Tawfeeq Al-Alawi, and Ali Al-Attawi, 1月 26, 2018
画像の増強 (II) とフラットパネル検出器 (FPD) の2つの異なる検出器を搭載したリアルタイムX線顕微鏡撮影法(RTX)の機器によって提供される画質を比較します。
詳細を読むRussel Shor, 8月 14, 2015
G&Gブリーフでは、Gems & Gemology(宝石と宝石学)2015年夏号の内容の概要を紹介しています。
詳細を読むDona M. Dirlam
Gems & Gemology(宝石と宝石学)の1991年冬号から抜粋したこの記事は、Gems & Gemology(宝石と宝石学)以外で公開された重要な宝石学関連記事を要約したものです。
詳細を読むBrendan M. Laurs, Thomas W. Overton
宝石と宝石学の2009年秋号から抜粋したこの記事は、宝石と宝石学以外の出版物で公開された重要な宝石学関連の記事を要約したものです。
詳細を読むStefanos Karampelas, Jürgen Michel, Mingling Zheng-Cui, Jens-Oliver Schwarz, Frieder Enzmann, Emmanuel Fritsch, Leon Leu, and Michael S. Krzemnicki
X線コンピューターマイクロトモグラフィーによって真珠の内部の特徴を詳細にわたり明らかにします。
詳細を読むDona M. Dirlam
「Gems & Gemology(宝石と宝石学)」1991年秋号からのこの記事では、「Gems & Gemology(宝石と宝石学)」以外で公表された宝石学関連の重要な記事の要約を集めました。
詳細を読むBrendan M. Laurs, Thomas W. Overton
「Gems & Gemology (宝石と宝石学)」の2009年冬号から抜粋したこの記事は、「宝石と宝石学」以外で発表された重要な宝石学関連記事の要約をまとめたものです。
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